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PCT高压加速老化试验箱是一种用于模拟高温、高湿及高压环境下材料或组件耐久性和稳定性的设备。以下是一些关于PCT高压加速老化试验箱的介绍：

技术参数：

PCT试验箱能够模拟的环境条件包括温度范围从+100℃至+156℃（饱和蒸汽温度），湿度范围为100%RH（饱和蒸气湿度），压力范围为0.2~3kg/cm² (0.05~0.294Mpa)。

温度均匀度控制在≤±2℃，温度波动度≤±0.5℃，湿度波动度≤±2 % R.H，湿度偏差≤±3 % R.H，压力偏差≤±2Kpa。

加压时间约为45分钟，功率需求根据不同型号分别为2.2KW、2.5KW和3.5KW。

应用领域：

PCT高压加速老化试验箱广泛应用于电子元器件测试领域，如芯片、集成电路(IC)、连接器等，以评估其在高温、高压和高湿环境下的性能和可靠性。

它也用于测试半导体封装的抗湿气能力，模拟严苛的温湿度以及压力环境，以发现潜在的故障原因，如爆米花效应、动金属化区域腐蚀造成的断路、封装体引脚间因污染造成的短路等。

测试标准：

PCT高压加速老化测试参考标准包括IEC60068-2-66、JESD22-A102-B、EIAJED4701、EIA/JESD22等。

这些标准涉及高温、高湿、高压循环及恒定试验测试，以确认产品因耐久性（寿命）或环境变化而导致功能失效的可能性。

操作与维护：

PCT试验箱应置于良好的温度环境中，建议阅历温度值为8—23℃，不具备此条件的试验室须配备适当的空调器或冷却塔。

应坚持专人专业管理，并不定期派专人到供方厂家培训学习，以获得专业的维护、维护和修理能力。

每次使用完毕后或有测试物品溢出，要使用中性清洁用品及软布清理内箱。

产品特点：

不锈钢圆型内箱结构，符合工业安全容器标准，可防止试验中结露滴水设计，同时采用抽屉式大容量水箱，试验时间长，并易拆卸清洗。

搭载进口控制系统微电脑P.I.D自动演算控制饱和蒸气温度，带有水位不足时提供警示功能。

精密设计，气密性良好，耗水量少，每次加水可连续200小时运行。

以上信息综合了PCT高压加速老化试验箱的技术参数、应用领域、测试标准、操作与维护以及产品特点，提供了一个全面的概述。